PHD-12TD-211

Input in zona pericolosa

Segnal d'entrada

Trasmetidur a dü o tri fil o surgent de curent (segnal digital HART)

Tensiun de distribuziun del trasmetidur

La tensiun del circuit avert l’è ≤28V e la tensiun de uscita l’è ≥15,5V quand el circuit l’è de 20mA.

Sorcitament en zona sicüra

Segnal de uscita

~ 20 mA (segnal digital HART)

Carich de uscita

Quand se produsen 20mA, 0~500 Ω (personalizzabil)
Tip de uscita de tensiun facultatif, resistenza al carich RL ≥ 330k Ω

Parametri de bas

Tensiun de alimentaziun

20~35VCC

Consum de energia

Quand l'alimentaziun de 24V, uscita de 20mA
≤95mA (PHD-12TD-211+)

Indicatur LED

Verd: indicatur de alimentaziun

Temp de rispòsta

2ms per rivà al 90% del valur final

Deriva de la temperadüra

0,005% FS/°C

Parametri de la temperadüra

Temperatura de lavoro: -20°C ~ +60°C,
Temperadura de cunservaziun: -40°C ~ +80°C

Umidità relativa

10% ~ 95% RH senza cundensaziun

Resistenza a l'isolament

Intra el lat intrinsecament sicür e el lat minga intrinsecament sicür (≥3000VAC/min); intra l’alimentaziun e el lat minga intrinsecament sicür (≥1500VAC/min)

Resistenza a l'isolament

≥100MΩ (intra ingress/uscita/alimentaziun)

Cumpatibilità eletromagnetich

Segond la CPI 61326-1 (GB/T 18268), la CPI 61326-3-1

MTBF

100000 h

Requisiti del fil

Seziun trasversal ≥ 0,5mm2; Resistenza a l'isolament ≥ 500V

Attrezzatur sul camp aplicabil

Trasmetidur a dü fil (HART) o segnal de surgent de curent (HART)

Lugar de instalaziun

Lugar de installaziun: installà en una zòna sicüra, pœu vèss culegà a strüment de sicüreza intrinsech en sit periculus fin a la zòna 0, IIC, zòna 20 e IIIC

Certificaziun intrinsecament sicüra

Marca a prova de esplosion

[Es ia Ga]lIC [Es ia Da]lllC

Norma a prova de esplosion

GB/T3836.1-2021 GB/T3836.4-2021

Morset 3-2, 3-4:

Um:250V CA/CC Uo=28V CC lo=93mA Po=0,65W Co=0,083μF Lo=4,2mH

Morset 1-2:

Um:250V CA/CC Uo=7,2V CC lo=--- Po=-Co=12μF Lo=--

Organism de certificaziun

CQST (Centro naziunal de la supervisiun e de test de la qualità de la Cina per i prudott eletrich prutegiü di esplusiun)
Centro de test di prudutt de pruteziun cuntra i lamp de Shanghai